樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測項目:溫度、偏置、壽命試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分: 場效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994/IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 7.3.1
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 溫度、偏置、壽命試驗(yàn) 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分: 場效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994/IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 7.3.1