樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測項(xiàng)目:外觀及機(jī)械檢驗(yàn)(外部目檢)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)方法 MIL-STD-750E:2006 METHOD 2071.6
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 外觀及機(jī)械檢驗(yàn)(外部目檢) 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)方法 MIL-STD-750E:2006 METHOD 2071.6