樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測項(xiàng)目:溫度循環(huán)(溫度沖擊試驗(yàn))
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第25部分:溫度循環(huán) IEC 60749-25:2003
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 溫度循環(huán)(溫度沖擊試驗(yàn)) 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第25部分:溫度循環(huán) IEC 60749-25:2003