樣品名稱:半導(dǎo)體晶體場效應(yīng)管(MOSFET,碳化硅MOSFET)
檢測項(xiàng)目:漏-源擊穿電壓V(BR)DSS
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128B-2021 3407
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體晶體場效應(yīng)管(MOSFET,碳化硅MOSFET) 漏-源擊穿電壓V(BR)DSS 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB 128B-2021 3407