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半導(dǎo)體IGBT電路中低溫測(cè)試檢測(cè)

  • 樣品名稱：半導(dǎo)體IGBT電路

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：低溫測(cè)試

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 分立器件第9部分：絕緣柵雙極晶體管（IGBT） GB/T 29332-2012 6.3.3

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 半導(dǎo)體IGBT電路 低溫測(cè)試 半導(dǎo)體器件 分立器件第9部分：絕緣柵雙極晶體管（IGBT） GB/T 29332-2012 6.3.3

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