樣品名稱:半導(dǎo)體IGBT電路
檢測(cè)項(xiàng)目:開關(guān)時(shí)間
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件的試驗(yàn)方法 標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 MIL-STD-750F 3472.2
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體IGBT電路 開關(guān)時(shí)間 半導(dǎo)體器件的試驗(yàn)方法 標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 MIL-STD-750F 3472.2