樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路
檢測項目:功能測試
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):《半導(dǎo)體器件集成電路 第 2 部分:數(shù)字集成電路》 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第 3 節(jié) 6
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路 功能測試 《半導(dǎo)體器件集成電路 第 2 部分:數(shù)字集成電路》 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第 3 節(jié) 6