樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測(cè)項(xiàng)目:標(biāo)志的耐久性
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第1部分:總則 GB/T4937.1-2006 IEC60749-1:2002 4.2
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 標(biāo)志的耐久性 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第1部分:總則 GB/T4937.1-2006 IEC60749-1:2002 4.2