樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)
檢測(cè)項(xiàng)目:掃頻振動(dòng)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548C-2021 2007
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān) 掃頻振動(dòng) 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548C-2021 2007