樣品名稱:半導(dǎo)體電子元器件
檢測項(xiàng)目:高溫反偏
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件的環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分:測試方法 方法1038 老煉(用于二極管,整流器和穩(wěn)壓管) MIL-STD-750F-2012 方法 1038
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體電子元器件 高溫反偏 半導(dǎo)體器件的環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分:測試方法 方法1038 老煉(用于二極管,整流器和穩(wěn)壓管) MIL-STD-750F-2012 方法 1038