樣品名稱:半導(dǎo)體電子元器件
檢測(cè)項(xiàng)目:間歇老化
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件的環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分:測(cè)試方法 方法1037 間歇工作壽命(抽樣方案) MIL-STD-750F-2012 方法 1037
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體電子元器件 間歇老化 半導(dǎo)體器件的環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分:測(cè)試方法 方法1037 間歇工作壽命(抽樣方案) MIL-STD-750F-2012 方法 1037