樣品名稱:電子元件、半導(dǎo)體分立器件
檢測(cè)項(xiàng)目:高溫壽命實(shí)驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548C-2021 方法 1008.1方法 1011.1方法 1012
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元件、半導(dǎo)體分立器件 高溫壽命實(shí)驗(yàn) 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548C-2021 方法 1008.1方法 1011.1方法 1012