樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器
檢測(cè)項(xiàng)目:紋波抑制比Srip
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測(cè)試方法的基本原理 GB-T 4377-2018 方法4.3
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器 紋波抑制比Srip 半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測(cè)試方法的基本原理 GB-T 4377-2018 方法4.3