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半導(dǎo)體分立器件和集成電路光電子器件中集電極-發(fā)射極擊穿電壓檢測(cè)

  • 樣品名稱：半導(dǎo)體分立器件和集成電路光電子器件

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：集電極-發(fā)射極擊穿電壓

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體光電耦合器測(cè)試方法 SJ/T 2215-2015 方法5.6

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 半導(dǎo)體分立器件和集成電路光電子器件 集電極-發(fā)射極擊穿電壓 半導(dǎo)體光電耦合器測(cè)試方法 SJ/T 2215-2015 方法5.6

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