樣品名稱:多晶硅
檢測(cè)項(xiàng)目:硼、鋁、鎵、磷、砷、銻
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):低溫傅立葉變換紅外光譜法測(cè)量硅單晶中Ⅲ、Ⅴ族雜質(zhì)含量的測(cè)試方法 GB/T 24581-2009
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 多晶硅 硼、鋁、鎵、磷、砷、銻 低溫傅立葉變換紅外光譜法測(cè)量硅單晶中Ⅲ、Ⅴ族雜質(zhì)含量的測(cè)試方法 GB/T 24581-2009