樣品名稱:硅晶體
檢測(cè)項(xiàng)目:體內(nèi)少數(shù)載流子壽命
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):硅和鍺體內(nèi)少數(shù)載流子壽命測(cè)定光電導(dǎo)衰減法 GB/T1553-2009
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 硅晶體 體內(nèi)少數(shù)載流子壽命 硅和鍺體內(nèi)少數(shù)載流子壽命測(cè)定光電導(dǎo)衰減法 GB/T1553-2009