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現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)中輸入高電平電流和輸入低電平電流檢測(cè)

  • 樣品名稱(chēng)：現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：輸入高電平電流和輸入低電平電流

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：SJT11706-2018 半導(dǎo)體集成電路 現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列測(cè)試方法

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA) 輸入高電平電流和輸入低電平電流 SJT11706-2018 半導(dǎo)體集成電路 現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列測(cè)試方法

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