樣品名稱:半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路
檢測項目:內(nèi)部目檢
認(rèn)可資質(zhì):CNAS
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路總規(guī)范GB/T 4589.1-2006 idt IEC 60747-10:1991
服務(wù)地點:全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 內(nèi)部目檢 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路總規(guī)范GB/T 4589.1-2006 idt IEC 60747-10:1991