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樣品名稱:半導體器件分立器件和集成電路
檢測項目:內部目檢
認可資質:其它
檢測標準:半導體器件分立器件和集成電路總規(guī)范 GB/T 4589.1-2006,IEC 60747-10:1991 4.3.1.2
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 半導體器件分立器件和集成電路 內部目檢 半導體器件分立器件和集成電路總規(guī)范 GB/T 4589.1-2006,IEC 60747-10:1991 4.3.1.2
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