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雙極型晶體管中25℃和高溫間基極-發(fā)射極電壓差變化檢測(cè)

  • 樣品名稱：雙極型晶體管

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：25℃和高溫間基極-發(fā)射極電壓差變化

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件分立器件第7部分：雙極型晶體管第一篇高低頻放大環(huán)境額定的雙極型晶體管空白詳細(xì)規(guī)范 GB/T 6217-1998 idt IEC 747-7-1:1989

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 雙極型晶體管 25℃和高溫間基極-發(fā)射極電壓差變化 半導(dǎo)體器件分立器件第7部分：雙極型晶體管第一篇高低頻放大環(huán)境額定的雙極型晶體管空白詳細(xì)規(guī)范 GB/T 6217-1998 idt IEC 747-7-1:1989

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