樣品名稱:高低頻放大環(huán)境額定的雙極型晶體管
檢測項目:25℃和高溫間基極-發(fā)射極電壓差變化
認可資質(zhì):其它
檢測標準:半導體器件分立器件第7部分:雙極型晶體管第一篇高低頻放大環(huán)境額定的雙極型晶體管空白詳細規(guī)范 GB/T 6217-1998, IEC 747-7-1:1989 表3 C2a
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 高低頻放大環(huán)境額定的雙極型晶體管 25℃和高溫間基極-發(fā)射極電壓差變化 半導體器件分立器件第7部分:雙極型晶體管第一篇高低頻放大環(huán)境額定的雙極型晶體管空白詳細規(guī)范 GB/T 6217-1998, IEC 747-7-1:1989 表3 C2a