樣品名稱:數(shù)字集成電路
檢測(cè)項(xiàng)目:建立時(shí)間和保持時(shí)間
認(rèn)可資質(zhì):CNAS
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 idt IEC 748-2:1985
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 數(shù)字集成電路 建立時(shí)間和保持時(shí)間 半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 idt IEC 748-2:1985