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外殼（半導體）中密封(粗檢漏)檢測

  • 樣品名稱：外殼（半導體）

  • 檢測項目：密封(粗檢漏)

  • 認可資質(zhì)：CNAS

  • 檢測標準：半導體集成電路外殼通用規(guī)范GJB1420B-2011

  • 服務地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標簽： 外殼（半導體） 密封(粗檢漏) 半導體集成電路外殼通用規(guī)范GJB1420B-2011

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