樣品名稱:外殼(半導(dǎo)體)
檢測(cè)項(xiàng)目:密封(細(xì)檢漏)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路外殼通用規(guī)范 GJB1420B-2011 表2 鑒定檢驗(yàn)
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 外殼(半導(dǎo)體) 密封(細(xì)檢漏) 半導(dǎo)體集成電路外殼通用規(guī)范 GJB1420B-2011 表2 鑒定檢驗(yàn)