樣品名稱:微電子器件
檢測項(xiàng)目:溫度沖擊
認(rèn)可資質(zhì):CNAS
檢測標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB 548B-2005;微電子器件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-883J-2013
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 微電子器件 溫度沖擊 微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB 548B-2005;微電子器件試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-883J-2013