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微電子器件環(huán)境試驗(yàn)中溫度沖擊檢測(cè)

  • 樣品名稱：微電子器件環(huán)境試驗(yàn)

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：溫度沖擊

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》GJB548B-2005方法 1010.1；MIL-STD-883H:2010

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 微電子器件環(huán)境試驗(yàn) 溫度沖擊 《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》GJB548B-2005方法 1010.1；MIL-STD-883H:2010

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