樣品名稱:集成電路
檢測項(xiàng)目:鍵合強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第22部分:鍵合強(qiáng)度》 IEC 60749-22:2002
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 集成電路 鍵合強(qiáng)度 《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第22部分:鍵合強(qiáng)度》 IEC 60749-22:2002