樣品名稱:電子元器件及設(shè)備(物理性能)
檢測項(xiàng)目:芯片剪切強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):引出端強(qiáng)度(SMD)/剪切應(yīng)力試驗(yàn) AEC-Q200-006:2010
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子元器件及設(shè)備(物理性能) 芯片剪切強(qiáng)度 引出端強(qiáng)度(SMD)/剪切應(yīng)力試驗(yàn) AEC-Q200-006:2010