樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測(cè)項(xiàng)目:芯片剪切強(qiáng)度
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第19部分:芯片剪切強(qiáng)度 GB/T4937.19-2018/ IEC 60749-19: 2010 3
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 芯片剪切強(qiáng)度 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第19部分:芯片剪切強(qiáng)度 GB/T4937.19-2018/ IEC 60749-19: 2010 3