國家電子電器產(chǎn)品檢測中心
劉工
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樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路(失效分析)
檢測項目:密封性試驗
認可資質(zhì):其它
檢測標準:半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 5.2.8
服務(wù)地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 半導(dǎo)體集成電路(失效分析) 密封性試驗 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB 3233-1998 5.2.8