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半導體集成電路中密封性試驗（檢漏）檢測

  • 樣品名稱：半導體集成電路

  • 檢測項目：密封性試驗（檢漏）

  • 認可資質：其它

  • 檢測標準：半導體集成電路失效分析程序和方法 　 GJB3233-1998 　 5.2.8

  • 服務地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標簽： 半導體集成電路 密封性試驗（檢漏） 半導體集成電路失效分析程序和方法 　 GJB3233-1998 　 5.2.8

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