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半導(dǎo)體集成電路(失效分析)中多頭探針測試檢測

  • 樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路(失效分析)

  • 檢測項目:多頭探針測試

  • 認可資質(zhì):其它

  • 檢測標準:微電子器件試驗方法和程序 GJB 548A-1996 方法5003 3.2.11

  • 服務(wù)地點:全國

  • 適用范圍:電子電氣

  • 標簽: 半導(dǎo)體集成電路(失效分析) 多頭探針測試 微電子器件試驗方法和程序 GJB 548A-1996 方法5003 3.2.11

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