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半導(dǎo)體集成電路（失效分析）中多頭探針測(cè)試檢測(cè)

  • 樣品名稱(chēng)：半導(dǎo)體集成電路（失效分析）

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：多頭探針測(cè)試

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 方法5003 3.2.11

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路（失效分析） 多頭探針測(cè)試 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 方法5003 3.2.11

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