樣品名稱:LED芯片和燈珠
檢測(cè)項(xiàng)目:低溫試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 GB/T 2423.1-2008 5.2
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: LED芯片和燈珠 低溫試驗(yàn) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 GB/T 2423.1-2008 5.2