樣品名稱:固態(tài)盤/嵌入式存儲(chǔ)芯片
檢測(cè)項(xiàng)目:低溫試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 GB/T 2423.1-2008
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 固態(tài)盤/嵌入式存儲(chǔ)芯片 低溫試驗(yàn) 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 GB/T 2423.1-2008