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混合集成電路(含多芯片組件)中掃描電子顯微鏡(SEM)檢查檢測

  • 樣品名稱：混合集成電路(含多芯片組件)

  • 檢測項目：掃描電子顯微鏡(SEM)檢查

  • 認可資質(zhì)：其它

  • 檢測標準：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 1102

  • 服務(wù)地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標簽： 混合集成電路(含多芯片組件) 掃描電子顯微鏡(SEM)檢查 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027B-2021 1102

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