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密封半導(dǎo)體集成電路中掃描電子顯微鏡（SEM）檢查檢測

  • 樣品名稱：密封半導(dǎo)體集成電路

  • 檢測項目：掃描電子顯微鏡（SEM）檢查

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗方法和程序 GJB548B-2005 方法2018.1

  • 服務(wù)地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 密封半導(dǎo)體集成電路 掃描電子顯微鏡（SEM）檢查 微電子器件試驗方法和程序 GJB548B-2005 方法2018.1

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