樣品名稱:半導(dǎo)體芯片
檢測(cè)項(xiàng)目:恒定濕熱試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T 2423.50-2012
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體芯片 恒定濕熱試驗(yàn) 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T 2423.50-2012