樣品名稱:半導(dǎo)體器件集成電路存儲器
檢測項(xiàng)目:輸出高阻態(tài)時(shí)低電平電流IOZL
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲器測試方法 GB/T 36477-2018 5.5
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件集成電路存儲器 輸出高阻態(tài)時(shí)低電平電流IOZL 半導(dǎo)體集成電路 快閃存儲器測試方法 GB/T 36477-2018 5.5