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半導(dǎo)體器件集成電路存儲器中輸出高阻態(tài)時低電平電流IOZL檢測

  • 樣品名稱：半導(dǎo)體器件集成電路存儲器

  • 檢測項目：輸出高阻態(tài)時低電平電流IOZL

  • 認可資質(zhì)：其它

  • 檢測標準：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器測試方法的基本原理 SJ/T10739-1996 2.5

  • 服務(wù)地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標簽： 半導(dǎo)體器件集成電路存儲器 輸出高阻態(tài)時低電平電流IOZL 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器測試方法的基本原理 SJ/T10739-1996 2.5

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