樣品名稱:半導(dǎo)體器件集成電路存儲(chǔ)器
檢測(cè)項(xiàng)目:存儲(chǔ)器的特定時(shí)間:讀存取時(shí)間的測(cè)試
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 /第Ⅳ篇 第3節(jié) 4.6 d3
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件集成電路存儲(chǔ)器 存儲(chǔ)器的特定時(shí)間:讀存取時(shí)間的測(cè)試 半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 /第Ⅳ篇 第3節(jié) 4.6 d3