樣品名稱:半導(dǎo)體器件集成電路存儲器
檢測項(xiàng)目:存儲器的特定時間:寫恢復(fù)時間的測試
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 /第Ⅳ篇 第3節(jié) 4.6 d4
服務(wù)地點(diǎn):全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件集成電路存儲器 存儲器的特定時間:寫恢復(fù)時間的測試 半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 /第Ⅳ篇 第3節(jié) 4.6 d4