樣品名稱:電子半導(dǎo)體產(chǎn)品
檢測(cè)項(xiàng)目:低溫儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):基于早期壽命失效率失效機(jī)制的汽車多芯片模塊應(yīng)力測(cè)試鑒定 AEC-Q104-Rev-2017 表1, 第H2項(xiàng)
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 電子半導(dǎo)體產(chǎn)品 低溫儲(chǔ)存壽命試驗(yàn) 基于早期壽命失效率失效機(jī)制的汽車多芯片模塊應(yīng)力測(cè)試鑒定 AEC-Q104-Rev-2017 表1, 第H2項(xiàng)