國(guó)家電子電器產(chǎn)品檢測(cè)中心
劉工
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樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路失效分析
檢測(cè)項(xiàng)目:非功能測(cè)試
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB3233-1998 5.1.3
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路失效分析 非功能測(cè)試 半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法 GJB3233-1998 5.1.3