樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測項目:鍵合強度(破壞性鍵合線拉力試驗)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件的機械試驗方法 第2部分:方法2001 至2999 MIL-STD-750-2B:2022 方法2037.1
服務(wù)地點:全國
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 鍵合強度(破壞性鍵合線拉力試驗) 半導(dǎo)體器件的機械試驗方法 第2部分:方法2001 至2999 MIL-STD-750-2B:2022 方法2037.1