樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器
檢測(cè)項(xiàng)目:輸入低電平電流IIL
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇2節(jié)2 方法38
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機(jī)存儲(chǔ)器 輸入低電平電流IIL 半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇2節(jié)2 方法38