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半導體器件中高溫柵極偏置(HTGB)檢測

  • 樣品名稱:半導體器件

  • 檢測項目:高溫柵極偏置(HTGB)

  • 認可資質:其它

  • 檢測標準:半導體器件 分立器件 第8部分: 場效應晶體管 GB/T 4586-1994/IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 7.3.2

  • 服務地點:全國

  • 適用范圍:電子電氣

  • 標簽: 半導體器件 高溫柵極偏置(HTGB) 半導體器件 分立器件 第8部分: 場效應晶體管 GB/T 4586-1994/IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 7.3.2

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