樣品名稱:半導(dǎo)體器件
檢測(cè)項(xiàng)目:高溫柵極偏置(HTGB)
認(rèn)可資質(zhì):其它
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分: 場(chǎng)效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994/IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 7.3.2
服務(wù)地點(diǎn):全國(guó)
適用范圍:電子電氣
標(biāo)簽: 半導(dǎo)體器件 高溫柵極偏置(HTGB) 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分: 場(chǎng)效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994/IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 7.3.2