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樣品名稱:半導體器件
檢測項目:高溫柵極偏置(HTGB)
認可資質:其它
檢測標準:半導體器件 分立器件 第8部分: 場效應晶體管 GB/T 4586-1994/IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 7.3.2
服務地點:全國
適用范圍:電子電氣
標簽: 半導體器件 高溫柵極偏置(HTGB) 半導體器件 分立器件 第8部分: 場效應晶體管 GB/T 4586-1994/IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 7.3.2
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