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半導(dǎo)體集成電路CMOS電路中輸出高阻態(tài)時(shí)低電平電流IOZL檢測(cè)

  • 樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：輸出高阻態(tài)時(shí)低電平電流IOZL

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.14

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 輸出高阻態(tài)時(shí)低電平電流IOZL 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.14

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