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半導體集成電路CMOS電路中輸入低電平電流IIL檢測

  • 樣品名稱：半導體集成電路CMOS電路

  • 檢測項目：輸入低電平電流IIL

  • 認可資質(zhì)：其它

  • 檢測標準：半導體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 第2節(jié)第2條

  • 服務(wù)地點：全國

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標簽： 半導體集成電路CMOS電路 輸入低電平電流IIL 半導體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 第2節(jié)第2條

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