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集成電路中掃描電子顯微鏡（SEM）檢查檢測(cè)

  • 樣品名稱(chēng)：集成電路

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：掃描電子顯微鏡（SEM）檢查

  • 認(rèn)可資質(zhì)：其它

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GJB548B-2005，方法2018 微電子器件試驗(yàn)方法和程序

  • 服務(wù)地點(diǎn)：全國(guó)

  • 適用范圍：電子電氣

  • 標(biāo)簽： 集成電路 掃描電子顯微鏡（SEM）檢查 GJB548B-2005，方法2018 微電子器件試驗(yàn)方法和程序

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